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A novel test point selection method for analog fault dictionary techniques
  • ISSN号：0923-8174
  • 期刊名称：Journal of Electronic Testing-Theory and Applicati
  • 时间：2010
  • 页码：523-534
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： Yang, ChengLin|Tian, ShuLin|Long, Bing|Chen, Fang|
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电子系统可测试性设计理论与方法
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