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多芯片组件基板单探针测试路径的二次优化

ISSN号：0253-4177
期刊名称：半导体学报
时间：0
页码：991-1008
语言：中文
分类：TN491[电子电信—微电子学与固体电子学]
作者机构：[1]西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安710071, [2]中国电子科技集团预研部,北京100846
相关基金：国家自然科学基金资助项目（批准号：60606006）
相关项目：基于衬底非均匀温度分布效应的时钟布线优化

关键词：单探针测试, 模拟退火算法, 二次优化, single probe test, simulated annealing algorithm, second optimization

中文摘要：

基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法，即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示，所提方法与已有的启发式优化算法相比较，对单探针路径的优化最高可达90.2%，可以有效地降低多芯片组件互连基板单探针测试的成本.

英文摘要：

For the single-probe technology used to test MCM substrate,this paper presents a second single-probe traversal optimization approach based on a simulated annealing algorithm. Compared with previous heuristic algorithms, significant improvements are achieved using the proposed algorithm, and test cost is reduced dramatically by 90. 2%.