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考虑工艺波动的RC互连树统计功耗
  • 期刊名称:物理学报, 2011,60(3):036601-1-8. (SCI)
  • 时间:0
  • 分类:TP393[自动化与计算机技术—计算机应用技术;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构:[1]西安电子科技大学微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安710071
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:60606006); 国家杰出青年基金(批准号:60725415); 西安电子科技大学基本科研业务费资助的课题~~
  • 相关项目:集成电路设计(包括CAD)
中文摘要:

为了有效分析考虑工艺波动的RC互连树统计功耗,本文首先给出了考虑工艺波动的互连寄生参数和输入驱动点导纳矩的构建方法,然后,推导得出了互连功耗均值与标准差的表达式.计算结果表明,与目前广泛应用的Monte Carlo分析方法相比,采用本文方法得到的RC互连功耗均值误差小于4.36%,标准差误差则小于6.68%.结果显示,本文方法在确保精度的前提下大大缩短了仿真时间.

英文摘要:

In order to effectively analyze the statistical power consumption of RC interconnect tree with process fluctuation,a method of constructing interconnect parasitic parameters and driving point admittance moments is first presented in this paper. Then,the expressions of mean and standard deviations of interconnect power consumption are obtained. The calculation results indicate that the errors of mean and standard deviations are less than 4. 36 % and 6. 68 % respectively compared with those calculated by the widely used Monte Carlo method. Results show that the proposed method has a good accuracy and high efficiency.

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