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电子束蒸发制备氮化硼薄膜的红外光谱研究
  • 期刊名称:光散射学报,21(2009)309
  • 时间:0
  • 分类:O433[机械工程—光学工程;理学—光学;理学—物理]
  • 作者机构:[1]北京工业大学应用数理学院,北京100124
  • 相关基金:基金项目:国家自然科学基金(60876006,60376007);北京市自然科学基金(4072007);北京市属市管高等学校人才强教计划资助项目;北京市教委资助项目(KM200910005018);教育部学回国人员科研启动基金资助项目
  • 相关项目:宽带隙立方氮化硼薄膜肖特基接触和场效应管研究
中文摘要:

用电子束蒸发法制备氮化硼薄膜,分别研究束流大小和蒸发时间长短对薄膜质量的影响,薄膜以红外吸收光谱标识。实验结果表明,束流大小和蒸发时间长短对薄膜质量都有影响,经过900℃氮气保护退火后,都得到了高立方相含量的氮化硼薄膜。

英文摘要:

Boron nitride thin films were deposited by electron beam evaporation. The electron beam flux and deposition time were changed independently. Then films were annealed at 900℃ for 1 hour under N2 protection. The Boron nitride films were characterized by IR Spectra. The boron nitride thin films with large cubic phase content were obtained.

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