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一种容忍老化的多米诺门
  • ISSN号：1007-0249
  • 期刊名称：电路与系统学报
  • 时间：2012.10.15
  • 页码：91-97+103
  • 相关项目：容忍软错误的SoC芯片可靠性设计关键技术研究
作者： 梁华国|黄正峰|汪静|李志杰|李扬|严鲁明|XU Hui1,2,LIANG Hua-guo3,HUANG Zheng-feng3,WANG Ji|2.School of Computer Science and Engineering,Anhui|3.School of Electronic Science and Applied Physics|
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期刊信息
  • 《电路与系统学报》
  • 北大核心期刊（2011版）
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学院广州电子技术研究所
  • 主编：陈衍仪
  • 地址：广州市天河区五山能源路2号广州能源所
  • 邮编：510640
  • 邮箱：jcas@giet.ac.cn
  • 电话：020-87680717
  • 国际标准刊号：ISSN：1007-0249
  • 国内统一刊号：ISSN：44-1392/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 2000年获《CAJ-CD规范》执行优秀奖
  • 国内外数据库收录:
  • 日本日本科学技术振兴机构数据库,中国北大核心期刊（2004版）,中国北大核心期刊（2008版）,中国北大核心期刊（2011版）
  • 被引量:6133