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一种新颖高效抗SEU/SET锁存器设计
  • ISSN号：1000-7180
  • 期刊名称：微电子学与计算机
  • 时间：2014.7
  • 页码：27-31+36
  • 分类：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构：合肥工业大学电子科学与应用物理学院
  • 相关基金：国家自然科学基金项目(61274036,61106038,61106020);博士点基金(20110111120012)
  • 相关项目：面向成品率的三维片上网络TSV容错技术研究
作者： 梁华国|王旭明|黄正峰|
关键词： 单粒子翻转, 单粒子瞬态, 锁存器, 软错误, 双模冗余
中文摘要：

随着工艺技术的发展,集成电路对单粒子效应的敏感性不断增加,因而设计容忍单粒子效应的加固电路日益重要.提出了一种新颖的针对单粒子效应的加固锁存器设计,可以有效地缓解单粒子效应对于电路芯片的影响.该锁存器基于DICE和C单元的混合结构,并采用了双模冗余设计.SPICE仿真结果证实了它具有良好的抗SEU/SET性能,软错误率比M.Fazeli等人提出的反馈冗余锁存器结构减少了44.9%.与经典的三模冗余结构比较,面积开销减少了28.6%,功耗开销降低了超过47%.

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期刊信息
  • 《微电子学与计算机》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国航天科技集团公司
  • 主办单位:中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
  • 主编：李新龙
  • 地址：西安市雁塔区太白南路198号
  • 邮编：710065
  • 邮箱：mc771@163.com
  • 电话：029-82262687
  • 国际标准刊号：ISSN：1000-7180
  • 国内统一刊号：ISSN：61-1123/TN
  • 邮发代号:52-16
  • 获奖情况:
  • 航天优秀期刊,陕西省优秀期刊一等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊（2004版）,中国北大核心期刊（2008版）,中国北大核心期刊（2011版）,中国北大核心期刊（2014版）,中国北大核心期刊（2000版）
  • 被引量:17909