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A scheme of test data compression based on coding of even bits marking and selective output inversio
  • ISSN号：0045-7906
  • 期刊名称：Journal of Computers and Electrical Engineering
  • 时间：0
  • 页码：969-977
  • 语言：英文
  • 相关项目：控制器的内建自恢复与内建自测试研究
作者： W. Zhan, H. Liang, C. Jiang, Z. Huang,A. El-Maleh|
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控制器的内建自恢复与内建自测试研究
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