随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,方案进一步提高了压缩率.
随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,方案进一步提高了压缩率.