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SiCMOSFET磁集成开关电感软开关逆变器研究
  • ISSN号:1000-100X
  • 期刊名称:《电力电子技术》
  • 时间:0
  • 分类:TM464[电气工程—电器]
  • 作者机构:衢州职业技术学院,浙江衢州324000
  • 相关基金:基金项目:国家自然科学基金(51177067,50607007);衢州市科技计划项目(2015Y018)
中文摘要:

采用宽禁带半导体器件和软开关技术可显著改善逆变器效率和功率密度。提出采用碳化硅(SiC)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的新型磁集成软开关逆变拓扑。重点研究SiCMOSFET零电压开关(ZVS)关断损耗,通过深入探讨SiCMOSFET寄生电容对ZVS实现的影响及等效寄生电容的提取方法,并构建开关电感磁集成动态损耗模型,优化SiCMOSFETZVS的条件,修正器件电压、电流应力公式,获得了更高效的电路设计参数。最后通过一台20kWSiCMOSFET磁集成开关电感软开关逆变器实验样机证明了理论分析的正确性。

英文摘要:

The wide band gap semiconductor device and soft switching technology can significantly improve the efficiency and power density of the inverter.A new magnetic integrated soft switching inverter topology using silicon car bide(SiC) metal oxide semiconductor field effect transistor(MOSFET) is proposed.This paper focuses on SiC MOSFET zero voltage switch(ZVS) loss,through in-depth study of SiC MOSFET switch parasitic capacitance effect on zero volt- age, equivalent parasitic capacitance value extraction method, and construct the switch inductance integrated dynamic switch loss model,optimization of SiC MOSFET zero voltage correction device, voltage and current stress formula.The circuit design parameters more efficient.Finally,the correctness of analysis is proved by a SiC MOSFET prototype.

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期刊信息
  • 《电力电子技术》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:西安电力电子技术研究所
  • 主办单位:西安电力电子技术研究所
  • 主编:吕庆敏
  • 地址:西安市朱雀大街94号
  • 邮编:710061
  • 邮箱:dldzjstg@163.com
  • 电话:029-85271823
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-100X
  • 国内统一刊号:ISSN:61-1124/TM
  • 邮发代号:52-44
  • 获奖情况:
  • 获全国优秀科技期刊,获机械工业部科技期刊一等奖,获陕西省科技期刊一等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 波兰哥白尼索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:16331