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相移点衍射干涉仪的高精度对准
  • ISSN号:0258-7025
  • 期刊名称:中国激光
  • 时间:2010.7.7
  • 页码:1845-1849
  • 分类:O436.1[机械工程—光学工程;理学—光学;理学—物理]
  • 作者机构:[1]北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室,北京100081
  • 相关基金:教育部长江学者奖励计划; 国家自然科学基金(60938003); 北京理工大学基础研究基金(20070142008 20090442019); 国家科技重大专项(2008ZX02501-009)资助课题
  • 相关项目:超大数值孔径光刻成像与图形保真技术研究
作者: 刘克|李艳秋|
中文摘要:

相移点衍射干涉仪(PS/PDI)的绝对测量精度和重复精度都直接受干涉仪装调误差的影响,因此采用具有高灵敏度的计算机辅助装调技术进行干涉仪的高精度对准是必要的。在PS/PDI空间频域特性分析的基础上,开发了一套高灵敏度的计算机辅助装调方法来实现干涉仪的对准。在粗装调阶段,对光电传感器采集的光场分布进行离散傅里叶变换,利用频谱图中的信息调整PS/PDI;在精密装调阶段,采用干涉条纹的频域对比度作为评价函数,以得到对比度的最大值为目标微调干涉仪。装调实验结果表明,对于可见光波段PS/PDI中直径为1.5μm的针孔,可以达到优于0.1μm的重复对准精度。

英文摘要:

Both the absolute accuracy and repeatability of phase-shifting point diffraction interferometer(PS/PDI) are influenced by the alignment errors of interferometer,so a highly sensitive computer aided alignment method is necessary.A highly sensitive computer aided alignment method based on the spatial frequency domain characteristic of PS/PDI is developed.In the coarse alignment stage,the information provided by the discrete Fourier transform of the light field distribution on CCD is used to align the PS/PDI.In the fine alignment stage,the frequency domain contrast of fringes on CCD is used as the merit function to align the PS/PDI.Alignment experimental results show that the alignment repeatability of 0.1 μm can be achieved for an 1.5 μm diameter pinhole used in visible light PS/PDI.

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期刊信息
  • 《中国激光》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国光学学会 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 主编:周炳琨
  • 地址:上海市嘉定区清河路390号
  • 邮编:201800
  • 邮箱:cjl@siom.ac.cn
  • 电话:021-69917051
  • 国际标准刊号:ISSN:0258-7025
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1339/TN
  • 邮发代号:4-201
  • 获奖情况:
  • 中国自然科学核心期刊,物理学类核心期刊,无线电子学·电信技术类核心期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:26849