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Low Electron Schottky Barrier Height of NiGe/Ge Achieved by Ion Implantation After Germanidation Tec
  • ISSN号:0741-3106
  • 期刊名称:IEEE Electron Device Letters
  • 时间:2012.12.12
  • 页码:1687-1688
  • 相关项目:硅基纳米尺度新结构器件
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