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智能型高压SENSFET器件的设计分析和实现
  • ISSN号:1674-4926
  • 期刊名称:《半导体学报:英文版》
  • 时间:0
  • 分类:TN386[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,四川成都610054, [2]中国电子科技集团第24研究所,重庆400060
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:60436030)和国防基础科研基金(批准号:A1120060490)资助项目
中文摘要:

基于JFET原理,采用Double RESURF技术,对SENSFET的降场层注入剂量、始点位置和长度以及Nwell注入剂量等进行优化设计,得到了耐压730V、JFET线性区电阻为7.2×10^5Ω·μm的智能高压SENSFET器件,流片结果表明,器件宽度为75μm情况下,SENSFET的击穿电压为700V,线性区电阻为10kΩ,设计分析和实验结果吻合得很——借助该SENSFET器件可以很好地实现智能功率集成电路中高压器件的信号检测和电路的自供电功能。

英文摘要:

Based on the JFET theory, a smart, high-voltage SENSFET that adopts double RESURF is designed. The implant dose, the start point, the length of the lower electric field layer Pwell2, and the implant dose of Nwell are optimized,and thus we obtain a SENSFET with a breakdown voltage of 730V and a linear resistance of 7.2×10^5Ω·μm. The experimental results show that the breakdown voltage is 700V and the linear resistance is 10kΩ when the width of the SENSFET is 75μm. The experimental results agree with the numerical results. The SENSFET is used as the detector and self-supply of a smart power integrated circuit.

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期刊信息
  • 《半导体学报:英文版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国电子学会 中国科学院半导体研究所
  • 主编:李树深
  • 地址:北京912信箱
  • 邮编:100083
  • 邮箱:cjs@semi.ac.cn
  • 电话:010-82304277
  • 国际标准刊号:ISSN:1674-4926
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5781/TN
  • 邮发代号:2-184
  • 获奖情况:
  • 90年获中科院优秀期刊二等奖,92年获国家科委、中共中央宣传部和国家新闻出版署...,97年国家科委、中共中央中宣传部和国家新出版署三等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:7754