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Si(100)衬底对ZnO纳米线阵列生长方向的控制作用
  • ISSN号:1671-4776
  • 期刊名称:《微纳电子技术》
  • 时间:0
  • 分类:TB383[一般工业技术—材料科学与工程]
  • 作者机构:[1]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054, [2]西南石油大学理学院,成都610500
  • 相关基金:国家自然科学基金重大资助项目(60390073);四川省应用基础研究项目(JY0290681);预研基金项目(ZJ0508)
中文摘要:

采用热分解ZnO粉末法,以Au为催化剂,在Si(100)衬底上外延生长了ZnO纳米线阵列。用扫描电子显微镜(SEM)分析表明:ZnO纳米线的直径在100nm左右,长度约3μm,与衬底表面的夹角约为70.5°,纳米线具有四个特定的倾斜方向A,B,C,D。X射线衍射(XRD)图谱上只有ZnO(0002)衍射峰,说明ZnO纳米线沿C轴择优生长。结合Si与ZnO的晶格结构特征,理论研究得出ZnO纳米线与Si基片的晶格匹配关系为:[0001]ZnO//[114]Si,[0001]ZnO//[1^-1^-4]Si,[0001]ZnO//[11^-4]Si,[0001]ZnO//[1^-14]Si,失配度为1.54%。得出了Si(100)衬底对ZnO纳米线生长方向具有控制作用的结论。

英文摘要:

Epitaxial ZnO nanowires array were grown on silicon (100) wafer of 10 mm×10 mm with Au catalysis by thermal evaporation ZnO powders technique. The majority of the nanowires grow in one of the four directions (A, B, C, D) all at an angle of 70.5° off substrate plane with nanowires having an average diameter of 100 nm and lengths of about 3 μm. The XRD pattern indicates ZnO nanowires grow along C axis. The growth mechanism can explain as [0001 ] ZnO//[114]Si, [0001]ZnO//[1^-1^-4]Si, [0001]ZnO//[11^-4]s, [0001]ZnO//[1^-14]Si epitaxy and crystal lattice mismatch is 1.54%. Which indicates Si (100) substrate controls growing orientation of ZnO nanowires array.

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期刊信息
  • 《微纳电子技术》
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  • 国际标准刊号:ISSN:1671-4776
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1314/TN
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  • 2002-2003和2003-2004年度,均获信息产业部电子科...,2005-2006年度获信息产业部电子科技期刊学术技术...,中国学术期刊执行(光盘版)检索与评价数据规范优...,2007-2008年度又荣获工业和信息化部电子科技期刊...
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
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