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二氧化铪(HfO2)薄膜的自组装制备
  • ISSN号:1002-185X
  • 期刊名称:《稀有金属材料与工程》
  • 时间:0
  • 分类:TB43[一般工业技术] TQ134.13[化学工程—无机化工]
  • 作者机构:[1]陕西科技大学,陕西西安710021
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(50672055,50872077);国家科技支撑计划项目(2006BAF02A28);陕西科技大学研究生创新基金资助项目
中文摘要:

以Hf(SO4)2·4H2O和HCl配制HfO2前驱液,利用自组装单层膜技术,在OTS自组装单层膜的功能性基团表面制备晶态二氧化铪薄膜。研究了HfO2前驱液的浓度,退火温度和有机硅烷单分子层等对HfO2薄膜制备的影响。通过接触角测量仪,XRD和SEM等表征手段,对薄膜表面形貌、微观结构、物相组成进行分析。结果表明:基板在OTS溶液中浸泡为20min时,有机层表面接触角最大为(110±2)°。利用自组装单层法成功制备出HfO2晶态薄膜,HfO2呈立方型,无其他杂相。膜层表面致密均一,生长良好。

英文摘要:

An alkyl silane layers on the hydroxylated surface of the glass substrates were prepared via the method of self-assembled monolayers (SAMs); Hf(SO4)2·4H2O and HCl were used as raw materials and HfO2 thin films were prepared on the active groups of the alkyl silane by the liquid phase deposition(LPD). The surface morphologies and structures of the thin films were characterized and analyzed by water contact angle equipment, SEM and XRD. The results of the characterization indicate that the contact angle of OTS-SAMs displayed (110±2)° after immersing for 20 min. The HfO2 thin films were prepared by the self-assembled monolayers, which were uniform and dense with a cubic microstructures of HfO2. The concentration of reactants, calcining temperatures and SAMs play important roles on the growth of HfO2 thin films.

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期刊信息
  • 《稀有金属材料与工程》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国有色金属学会 中国材料研究学会 西北有色金属研究院
  • 主编:张平祥
  • 地址:西安市51号信箱
  • 邮编:710016
  • 邮箱:RMME@c-nin.com
  • 电话:029-86231117
  • 国际标准刊号:ISSN:1002-185X
  • 国内统一刊号:ISSN:61-1154/TG
  • 邮发代号:52-172
  • 获奖情况:
  • 首届国家期刊奖,中国优秀期刊一等奖,中国有色金属工业优秀期刊1等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:24715