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PLD方法在CVD金刚石膜上生长ZnO薄膜及其特性研究
  • ISSN号:1007-5461
  • 期刊名称:量子电子学报
  • 时间:0
  • 页码:2120-2123
  • 语言:中文
  • 分类:TN249[电子电信—物理电子学] O484[理学—固体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]中国科学技术大学理化科学实验中心,安徽合肥230026, [2]中国科学技术大学物理系,安徽合肥230026
  • 相关基金:国家自然科学基金(50532070)和安徽省自然科学基金(070412034)资助项目
  • 相关项目:氧化锌异质结构电致发光及缺陷和杂质的行为研究
中文摘要:

采用脉冲激光沉积(PLD)技术,在(110)和(100)织构金刚石膜上成功制备出高度c-轴取向的ZnO薄膜,然后在纯氮气氛条件下对ZnO薄膜进行退火处理。作为比较,也在(100)Si上生长的ZnO薄膜进行了相同的处理。通过测量X射线衍射(XRD)谱和光致发光(PL)谱,研究了不同衬底性质和退火对薄膜结构和发光特性的影响。实验结果表明,在(100)织构金刚石上的ZnO膜具有最好的结晶质量,其半高宽只有0.2°。退火之后近紫外发光峰明显减弱的同时,绿色发光峰得到增强。这里归结为氮气退火后氧空位的增加,这点从退火后的XPS谱中可以得到进一步的确认。

英文摘要:

ZnO films were successfully deposited on the (110), (100)-textured diamond films by pulsed laser deposition (PLD) method. Annealing treatments for as-deposited samples were also performed in nitrogen ambient. The effect of different substrates and annealing atmosphere on the structural and optical properties of the deposited films was investigated by means of X-ray diffraction (XRD) and photoluminescence (PL) measurements. The best crystal quality of ZnO film was obtained on the (100) orientation diamond film. After annealing in nitrogen ambient, the intensity of ultraviolet (UV) emission decreases greatly and the deep-level emission is enhanced. It is contributed to the introduction of a great deal of oxygen vacancies into ZnO films during the annealing process, which can be further confirmed by X-ray photoelectronic spectroscopy (XPS).

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期刊信息
  • 《量子电子学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国光学学会基础光学专业委员会 中国科学院安徽光学精密机械研究所
  • 主编:龚知本
  • 地址:合肥1125号信箱
  • 邮编:230031
  • 邮箱:lk@aiofm.ac.cn
  • 电话:0551-5591564
  • 国际标准刊号:ISSN:1007-5461
  • 国内统一刊号:ISSN:34-1163/TN
  • 邮发代号:26-89
  • 获奖情况:
  • 1997年获“中国光学期刊”二等奖,1994年评比华东地区优秀期刊三等奖,1998年评为安徽省优秀科技期刊二等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:4844