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AlGaN基共振腔增强的p-i-n型紫外探测器
  • ISSN号:0253-4177
  • 期刊名称:半导体学报
  • 时间:0
  • 页码:959-962
  • 语言:中文
  • 分类:O472.8[理学—半导体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]南京大学物理系江苏省光电功能材料重点实验室,江苏南京210093, [2]中国科学院上海技术物理研究所,上海200080
  • 相关基金:国家重大基础研究(批准号:2006CB6049)和国家自然科学基金(批准号:60676057)资助项目
  • 相关项目:新型快速响应RCE紫外探测器的基础研究
中文摘要:

设计了目标探测波长为320nm的AlGaN基共振腔增强的p-i-n型紫外光电探测器,共振腔由分别作为底镜和顶镜的AlN/Al0.3Ga0.7 N布拉格反射镜和空气/GaN界面组成,有源区p-GaN/i-GaN/n-Al0.38Ga0.62 N被置于腔内,该结构采用金属有机物化学气相淀积(MOCVD)方法在蓝宝石衬底和GaN模板上外延生长得到,光谱响应测试显示了正入射时该器件在波长313nm处出现响应的选择增强,零偏压下响应度为14mA/W。

英文摘要:

AlGaN-based resonant-cavity-enhanced p-i-n photodetectors operating at a wavelength of 320nm were designed. A 40.5-pair AIN/Al0.3 Ga0.7N distributed Bragg reflector and the air/GaN interface, serving as the back and front mirror, respectively,form a resonant cavity. In the cavity there is a p-GaN/i-GaN/n-Al0.38Ga0.62N structure. The wafer was fully epitaxial on the sapphire substrate and GaN template by metalorganic chemical vapor deposition. The response spectrum exhibits selective enhancement at 313nm,with a responsivity of 14mA/W under zero bias.

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