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焊料空隙对隧道再生半导体激光器温度分布的影响
  • ISSN号:0254-0037
  • 期刊名称:《北京工业大学学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN248.4[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]北京工业大学光电子技术实验室,北京100022, [2]北京跟踪与通信技术研究所,北京100094
  • 相关基金:国家重点基础研究发展计划项目资助(2006CB604902),国家自然科学基金项目资助(60506012)
中文摘要:

针对隧道再生半导体激光器,建立了内部的热源分布模型.模拟计算得到了2个有源区隧道再生半导体激光器三维稳态温度分布,分析了焊料空隙对芯片内部稳态温度分布的影响.结果表明,当芯片与焊料为理想全接触时,靠近衬底的有源区的热量积累略高于靠近热沉的有源区的热量;随着空隙的增大,焊料空隙上方靠近热沉的有源区的局部温升较快,容易引起正反馈的电热烧毁,与实验结果吻合.

英文摘要:

A model of heat source is presented for tunnel regeneration laser diodes. Three dimension temperature distribution of the tunnel regeneration semiconductor laser with two active regions is simulated by using the finite element method, and the influence of solder voids on temperature distribution is discussed. Simulated result shows that thermal accumulating of the active region close to the substrate is higher than that of the active region close to the heat sink when there is no solder voids between the diode and the sink. Whereas localized temperature of the active region close to the heat sink rise more rapidly with localized hot spot caused by solder voids, which lead to positive feedback resulting in catastrophic optical damage (COD). The experimental phenomena are well coincident with the simulations.

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期刊信息
  • 《北京工业大学学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:北京市教委
  • 主办单位:北京工业大学
  • 主编:卢振洋
  • 地址:北京市朝阳区平乐园100号
  • 邮编:100124
  • 邮箱:xuebao@bjut.edu.cn
  • 电话:010-67392535
  • 国际标准刊号:ISSN:0254-0037
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2286/T
  • 邮发代号:2-86
  • 获奖情况:
  • 中国高等学校自然科学学报优秀学报二等奖,北京市优秀期刊,华北5省市优秀期刊,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国数学评论(网络版),德国数学文摘,荷兰文摘与引文数据库,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:11924