位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
基片曲率法在多孔硅薄膜残余应力
  • 期刊名称:物理学报,55(10):5451-5454 ,2006(SCI、EI收录)
  • 时间:0
  • 相关项目:面向SOC多孔硅绝热微集成热敏元件研究
同期刊论文项目
同项目期刊论文