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Fabrication and Characterization of La-doped HfO2 Gate Dielectrics by Metalorganic Chemical Vapor De
  • ISSN号:0169-4332Electronic Resource Number: 10.1016/s0169-4332(03)00702-5
  • 期刊名称:Applied Surface Science
  • 时间:2010
  • 页码:2496-2499
  • 相关项目:铪基稀土金属多元氧化物高K栅介质的基础研究
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