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Effects of thickness on structures and electrical properties of K0.5Na0.5NbO3 thick films derived fr
  • ISSN号:0272-8842
  • 期刊名称:Ceramics International
  • 时间:2012.1.1
  • 页码:291-294
  • 相关项目:纳米制造中的计量溯源与测试理论研究
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