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硅薄膜沉积过程中等离子发光基团的一维空间分布研究
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:O621.12[理学—有机化学;理学—化学] TQ171.112[化学工程—玻璃工业;化学工程—硅酸盐工业]
  • 作者机构:[1]南开大学光电子薄膜器件与技术研究所,天津300071
  • 相关基金:国家重点基础研究发展规划(批准号:2006CB202600),国家高技术研究发展规划(批准号:2007AA052436),国家自然科学基金(批准号:60506003),天津市自然科学基金(批准号:05YFJMTC01600),中国-希腊政府间合作项目和新世纪优秀人才支持计划资助的课题.
中文摘要:

使用光发射谱(OES)对甚高频等离子增强化学气相沉积(VHF-PECVD)技术沉积硅薄膜时的等离子体发光基团的空间分布进行了在线监测和研究.研究表明:等离子体的不同发光基团都存在着一个中间强度较大的区域和两边电极附近的暗区;增大硅烷浓度和提高辉光功率都会增大SiH*峰强度;硼烷的加入,使得SiH*和Hα*峰强度增大,但硼烷流量变化的影响很小;硼烷流量增大,材料的晶化率下降,而I[Hα*]/I[SiH*]值却上升;当硅烷浓度改变时,空间各个区域内的I[Hα*]/I[SiH*]值的变化规律不同;而改变辉光功率或改变硼烷流量的情况下,空间各个点的I*/I*值变化规律都是相同的.

英文摘要:

One-dimensional spatial distribution of the plasma luminous radicals during depositing silicon films and its online monitoring were studied using optical emission spectroscopy. The results indicated that there existed an evident luminous zone in the middle of the plasma and a dark zone near the two electrodes. The intensity of SiH* and Hα* peak increased with the increase of silane concentration, power, and the incorporation of borane. Crystalline volume fraction of thin films decreased with the increase of borane flow rate, but the ratio of I[Hα*]/I[SiH*] was also increased. The ratio of I[Hα*]/I[SiH*] varied in different ways at different positions with the variation of silane concentration. However, an unigue variation of the ratio all over the plasma is observed with the variation of the discharge power or the borane flow rate.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876