欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
无氰金-锡合金电镀液的成分优化及电流密度确定
期刊名称:测绘科学
时间:0
页码:151-152
语言:中文
相关项目:无铅化电子封装钎焊界面反应及焊点可靠性的基础研究
作者:
黄明亮|张福顺|潘剑灵|王来|
同期刊论文项目
无铅化电子封装钎焊界面反应及焊点可靠性的基础研究
期刊论文 44
会议论文 31
同项目期刊论文
Current-induced interfacial reactions in Ni/Sn–3Ag–0.5Cu/Au/Pd(P)/Ni–P flip chip i
电迁移极性效应及其对Sn-3.0Ag-0.5Cu无铅焊点拉伸性能的影响
SnAgCu无铅焊点界面组织及抗拉强度在时效过程中的演变
Effect of Y(2)O(3) particles on microstructure formation and shear properties of Sn-58Bi solder
LED倒装凸点Au/Sn双层薄膜界面反应的研究
Wetting behavior and interfacial reactions in (Sn-9Zn)-2Cu/Ni joints during soldering and isothermal
低稳恒磁场对锡锌基合金液与铜片界面反应的影响
Effect of electromigration on intermetallic compound formation in line-type Cu/Sn/Cu interconnect
钎焊及时效过程中化学镀Ni-P与Sn-3.5Ag的界面反应
镀液pH值及浓度对铝基表面化学镀镍-磷镀层磷含量及镀速的影响
Sn-XAg-0.5Cu无铅钎料熔化特性、润湿性及力学性能研究
Electromigration-induced interfacial reactions in Cu/Sn/electroless Ni-P solder interconnects
工艺参数对Sn0.3Ag0.7CuCu焊点界面组织和力学性能的影响
电迁移对Ni/Sn/Ni-P焊点界面反应的影响
分步法电镀制备金锡共晶凸点的组织
Effects of Aging on the Microstructural and Mechanical Properties of Sn-3.0Ag-0.5Cu Solder Joints of
热时效对SnAgCu微焊点界面IMC和抗拉强度的影响
Interfacial reaction between Au and Sn films electroplated for LED bumps
Suppression of interfacial intermetallic compounds between Sn-9Zn solder and Cu-substrate by adding
Ti对Sn0.7Cu无铅钎料润湿性和界面的影响
低银SnAgCuBiNi无铅钎料润湿及溶解行为分析
Mechanical Properties and Electrochemical Corrosion Behavior of Al/Sn-9Zn-xAg/Cu Joints
Sn/Cu接头界面金属间化合物层的生长及强磁场的影响
强磁场对Sn-4Cu合金凝固过程中Cu_6Sn_5相的影响
Bi对Sn-3Ag-0.5Cu/Cu无铅钎焊接头剪切强度的影响
电流密度对无氰电镀Au凸点生长行为的影响
预处理对AZ31镁合金表面Ni-B化学镀层形貌及性能的影响
化学镀Ni-P 与Sn-3.5Ag 在钎焊及时效过程中的界面反应
Sn-0.7Cu-xAg-yBi无铅钎料润湿性试验
Interfacial reactions between Sn-Cu based multicomponent solders and Ni substrates during soldering
不同应变速率下BGA焊球剪切断裂试验与模拟分析
电迁移对Ni/Sn3.0Ag0.5Cu/Au/Pd/Ni—P倒装焊点界面反应的影响
无铅BGA焊点温度循环失效机理
等温时效对SnAgCu焊点界面组织及剪切强度的影响
时效对BGA无铅焊点力学性能和断裂机制的影响
Interfacial intermetallic compound growth and shear strength of low-silver SnAgCuBiNi//Cu lead-free solder joints