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钎焊及时效过程中化学镀Ni-P与Sn-3.5Ag的界面反应
  • ISSN号:1006-2106
  • 期刊名称:铁道工程学报
  • 时间:0
  • 页码:500-504
  • 语言:中文
  • 分类:TQ153.2[化学工程—电化学工业]
  • 作者机构:[1]大连理工大学材料科学与工程学院,大连116024, [2]大连理工大学辽宁省先进连接技术重点实验室,大连116024
  • 相关基金:国家科技支撑计划资助项目(2006BAE03B02-2); 国家自然科学基金资助项目(U0734006 50811140338); 教育部高校博士点基金资助项目(20070141062)
中文摘要:

研究磷含量为6.5%(质量分数)的化学镀Ni-P薄膜与Sn-3.5Ag钎料合金之间的润湿行为,以及Sn-3.5Ag/Ni-P焊点在钎焊和时效过程中的界面反应。结果表明:250℃时,直径为(2.3±0.06)mm的Sn-3.5Ag焊球在化学镀Ni-6.5%P薄膜上钎焊后得到的润湿角约为44,铺展率约为67%;焊点界面由Ni3Sn4IMC层、及较薄的Ni-Sn-P过渡层构成Ni3P晶化层;钎焊过程中界面Ni3Sn4IMC的生长速率与钎焊时间t1/3呈线性关系;时效过程中界面Ni3Sn4IMC及富P层的生长速率与时效时间t1/2呈线性关系。

英文摘要:

The wetting behavior of Sn-3.5Ag solder on the electroless Ni-P film with 6.5%P(mass fraction) during soldering and the interfacial reactions between Sn-3.5Ag solder and electroless Ni-6.5%P during soldering and aging were investigated.The results show that the wetting angle is about 44 and the spreading coefficient is about 67%using the solder balls with diameter of(2.3±0.06) mm at 25℃.The soldering interface are composed of a Ni3Sn4 IMC layer,a thinner Ni-Sn-P layer and a Ni3P crystallization layer between Sn-3.5Ag solder and electroless Ni-P.The growth kinetics of the interfacial IMC Ni3Sn4 during soldering follows a linear relation with cubic root of soldering time.The growth kinetics of interfacial IMC Ni3Sn4 and P-enriched layer during aging obeys a linear relation with square root of aging time.

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期刊信息
  • 《铁道工程学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科协
  • 主办单位:中国铁道学会 中国铁路工程总公司
  • 主编:何宁
  • 地址:北京市复兴路69号中国中铁广场
  • 邮编:100039
  • 邮箱:cres1984@163.com
  • 电话:010-51878355 51878353
  • 国际标准刊号:ISSN:1006-2106
  • 国内统一刊号:ISSN:11-3567/U
  • 邮发代号:80-471
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 波兰哥白尼索引,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:13902