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Modulation of Schottky Barrier Height of Metal/TaN/n-Ge Junctions by Varying TaN Thickness
  • 期刊名称:IEEE. Tran. Electron Devices
  • 时间:2012.5.1
  • 页码:1328-1331
  • 相关项目:硅基锗材料外延及其相关器件基础研究
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